Automatisierte Zustandsprüfung von Paletten

Möglich wird dies durch den Einsatz von vier Trispector-3D-Laser-Triangulationskameras von Sick. Sie scannen im Durchlauf bedarfsweise die Ladefläche, den Palettenboden, alle vier Seiten sowie die inneren Komponenten einer Palette und erfassen dabei mögliche mechanische Defekte. Die PAIS-Auswerteeinheit – ein SIM-Controller von Sick – analysiert die Scanergebnisse und ermittelt unverzüglich den Zustand der untersuchten Palette. Diese schnelle Rückmeldung ermöglicht auch die Verwendung bei hohen Transportgeschwindigkeiten. Durch den Einsatz von robuster und oberflächenunabhängiger Lasertriangulation lassen sich auch nasse, verfärbte oder verschmutze Paletten sicher prüfen. Damit wird das Einschleusen von beschädigten Paletten in Materialfluss-, Handhabungs- und Lagerprozesse zuverlässig vermieden.

 Das PAIS bietet OEMs und Anwendern eine intuitive Softwarebedienung, über die zum Beispiel auch Grenzwerte für verschiedene Fehlerarten und einzelne Palettenelemente angepasst werden können. Um auch individuelle Prüfaufgaben durchführen zu können, bietet das PAIS über die grundlegenden Inspektionsroutinen hinaus individuelle Anpassungsmöglichkeiten – deren Ergebnisse ebenfalls in Statistiken für die Qualitätskontrolle einfließen. Was die Integration betrifft, überzeugt das PAIS durch eine robuste und platzsparende Ausführung sowie durch industriegerechte Konnektivität. Dies gewährleistet eine schnelle und nahtlose Anbindung sowohl an eine Förderstrecke als auch an OT- und IT-Systeme.